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對(duì)于比表面積及孔徑樣品的測(cè)試，由于多孔材料自身吸附性、保存和使用環(huán)境的影響，樣品在長期或短時(shí)間暴露在空氣中都會(huì)出現(xiàn)被雜質(zhì)氣體、水分等物質(zhì)的污染，從而影響比表面積及孔徑的測(cè)試結(jié)果。為解決樣品自身吸附性能和使用存放環(huán)境帶來的問題，MD-200全自動(dòng)樣品前處理器提供了完善的解決辦法，儀器通過真空抽離，升溫...